Leica EM TIC3X 三離子束剖面拋光機

 

產品型號：Leica EM TIC3X

產品分類：半導體封裝與組裝設備

廠商名稱：汎達科技有限公司

攤位號碼：N304

 

產品特色

 

Leica EM TIC3X
三離子束頗面拋光機
使用 Leica EM TIC 3X進行離子束切割是一項適用於切割硬的，軟的，多孔的，熱敏感的，脆的和/或非均質多相複合型材料，獲得高品質切割截面，以適宜於掃描電子顯微鏡（SEM）微區分（能譜分析 EDS，波譜分析 WDS，俄歇分析 Auger，背散射電子衍射分析 EBSD）和原子力顯微鏡（AFM） 分析。這一技術幾乎是唯一一個適用於任何材質樣品，獲得高品質切割截面的解決方法。使用該技術對 樣品進行處理，樣品受到形變或損傷的可能性最低，可暴露出樣品內部真實的結構資訊。 Leica EM TIC 3X 在技術上超越了傳統的離子束拋光切割設備。它使用三離子束，並可裝配冷凍樣品台和三樣品台，可以高速率離子束轟擊樣品，得到寬且深的切割區域，獲得一個高品質的平整的切割截面，幾乎適用於任何材料，整個樣品處理過程快速簡便。

 

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