橢圓偏光儀-alpha 2.0光阻厚度/非破壞性薄膜厚度量測

 

產品型號：alpha 2.0

產品分類：Micro LED生產製造設備

廠商名稱：先鋒科技股份有限公司

攤位號碼：N610

 

產品特色

 

光譜橢偏儀 alpha 2.0非破壞性薄膜厚度量測儀是J.A. Woollam橢偏儀產品中，設計用來快速量測一般薄膜厚度材料的簡易橢偏儀，具有高性價比，量測橢偏數據快速的特點，可進行非破壞性薄膜厚度量測，無論是，氧化物薄膜量測，氮化物薄膜量測、光阻厚度量測，只要是透光薄膜皆可量測，量測波長380-900nm，並有65度/70度/75度/90度的量測角度可調整，單點量測最快約3秒即可取得橢偏數據，軟體內見許多種數學函數來描述穿透膜吸、收膜層的特性：如Lorents、Gaussian、Harmonic等。

 

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