德國米銥MICRO-EPSILON ，將於2026年4月8日至4月10日，在台北南港展覽館一館M320攤位參加Touch Taiwan大展。此次展覽將重點展示面板厚度量測技術：線上厚度量測技術、彩色共焦位移計以及白光干涉位移厚度感測器。這些展區將展出三大系列的創新產品，涵蓋了從奈米級精密量測到高階自動化製造的各個方面，我們將展出多項頂尖技術，提供行業最好的產品和解決方案。

thicknessGAUGE C.LP 系統採用雷射輪廓掃描器進行厚度量測。掃描器會將雷射線投射至待測表面，透過雷射線補償帶材的傾斜，並可進行輪廓平均，確保量測結果的穩定性與可靠性。此雷射線量測技術亦可精確量測具結構性表面的材料，例如壓花表面或打孔板。此專為帶材與板材的高精度厚度量測而設計，亦適用於固定量測軌跡的應用，例如中心線量測（中心厚度）或邊緣厚度量測，搭配線性移動單元，可於最寬達 600 mm 的帶材寬度範圍內進行掃描式厚度量測。

Micro-Epsilon 雷射掃描儀是全球精度與量測速率最高的輪廓感測器之一。其可在非接觸狀態下，對各類物體表面進行輪廓檢測、量測與分析。多種量測範圍的型號設計，特別適用於各類工業應用。透過整合的 SMART 功能，scanCONTROL 雷射掃描儀能夠靈活應對多樣化的量測任務，且無需外接控制器，大幅簡化安裝與系統整合。scanCONTROL 系列可執行多種量測功能，包括輪廓、寬度、高度、深度、邊緣、焊珠、間隙、角度與圓度等。
藉由 Configuration Tools 軟體，可使用超過 40 種量測程序及 90 多項評估功能，這些程序可直接傳輸至 SMART 感測器中，以獨立模式完成量測、分析與輸出。Micro-Epsilon 提供 紅光雷射 與 獲得專利的藍光雷射技術 兩種版本。其中，藍光雷射掃描儀特別適用於熾熱金屬、透明表面（如玻璃與塑膠）及有機材料的輪廓量測。藍紫色雷射光束不會穿透被測物，並具備更高的訊號穩定性。藍光雷射掃描儀可對 超過 700 °C 的紅熱發光物體 及透明材料進行精確量測，其相關技術受專利保護。在這些挑戰性表面上，scanCONTROL 雷射掃描儀仍能提供卓越的訊號穩定度，確保高精度量測結果。scanCONTROL 具備 體積小、重量輕與高量測速率 的特性，為輪廓量測開拓更多應用可能。由於控制器整合於感測器外殼內，可大幅降低佈線需求，特別有利於機器與自動化設備整合，其高速量測能力非常適合動態應用。此外，透過可用的 SDK 或符合 GigE Vision 標準（可整合至影像處理軟體），scanCONTROL 感測器可輕鬆整合至客戶既有系統中。
scanCONTROL SMART 系列感測器可透過以下介面，將量測數據直接傳輸至控制系統： Ethernet、RS422、類比輸出、數位開關訊號、PROFINET、EtherNet/IP 及 EtherCAT。