鑑微科技：引領AI世代半導體檢測，全方位3D垂直光學解決方案
廠商名稱：鑑微科技股份有限公司
發佈日期：2026-03-06
攤位號碼：M204
自去年正式發表最新的垂直光學3D視覺模組 V8020D 以來，鑑微科技憑藉卓越的技術實力，迅速獲得市場高度關注與眾多客戶青睞。
三合一核心技術，對應多元檢測場景
V8020D 整合了主動式焦變（AiF）、**白光干涉（WLI）以及共軛焦（Confocal）**三種尖端3D成像手段。此種「一機多用」的設計，使設備能彈性切換，精準對應不同製程中的複雜檢測需求，大幅提升生產線的泛用性。
大視野與高速成像，滿足半導體嚴苛需求
針對 AI 世代半導體檢測的效率考驗，V8020D 主打大視野掃描與 1 秒鐘高速成像之效能。結合多項專為高階製程研發的獨特設計，能有效縮短檢測週期，落實精準服務。
廣泛應用於先進封裝與關鍵零組件
V8020D 具備高精度的量測能力，目前已廣泛應用於以下關鍵領域：
• 半導體封裝： 探針（Probe）、微型錫球（Micro Bump）。
• 先進製程： Back Drill 孔內 Stub 殘留、TGV / TSV 矽穿孔量測。
• 新型顯示與基板： Micro LED 檢測、玻璃基板（Glass Substrate）形貌分析。
誠摯邀請蒞臨參觀
鑑微科技誠摯邀請業界先進於4/8-4/10蒞臨南港展覽館一館 4 樓 M204 攤位，現場體驗台灣研發製造、具備國際競爭力的高精度光學檢測產品，共同探討 AI 時代的量測新趨勢。
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