Semilab 推出全方位 microLED 功能檢測量測解決方案
廠商名稱：台灣勝米磊有限公司
發佈日期：2026-02-27
攤位號碼：N220
Semilab 隆重推出 LumiPix-3000 —— 一款以光激發螢光（Photoluminescence, PL）為基礎的 microLED 功能檢測系統，具備全晶圓成像能力，專為偵測 microLED 器件中的發光強度與波長缺陷而設計。
LumiPix 採用先進的 PL 技術，提供多重激發選項與高解析度成像能力，可進行全面性的缺陷分析。系統可用於記錄、儲存與呈現各種 microLED 應用的量測數據，並支援 InGaN 與 AlInGaP 材料，最高可對 12 吋晶圓進行檢測。
透過非破壞式量測方法，LumiPix-3000 能夠偵測多種不同類型的缺陷，包括：
- 發光強度不均
- 波長偏移
- 結構與形貌異常
所有結果皆透過高品質 PL 影像與相關數據分析獲得，同時系統亦建構於符合工業規範的現代化平台之上。
立即聯絡我們，進一步了解 LumiPix-3000，並搶先站上 microLED 革命的最前線。
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