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反射式紅外線鍵合界面缺陷成像儀 (IRI)

產品型號：IRI-3100

產品分類：半導體封裝與組裝設備

廠商名稱：台灣勝米磊有限公司

攤位號碼：N220

產品特色

利用紅外線穿透材料並在界面處產生反射差異來顯示鍵合界面缺陷的成像技術。Void（空洞）會由於折射率不連續而產生特殊 IR 反射訊號，因此能在影像中被辨識。

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