載子解析光生(Carrier-Resolved Photo) &平行偶極線(Paralleled Dipole Line）霍爾量測系統 (PDL)

產品型號：PDL 1000

攤位號碼：N220

產品特色

載子解析光生霍爾暨平行偶極線 (PDL) 霍爾量測系統

載子解析光生霍爾暨平行偶極線（PDL）霍爾量測系統是一款先進的量測平台，專為高精度分析各類半導體材料中的載子傳輸特性而設計。透過結合載子解析光生霍爾技術（Carrier‑Resolved Photo‑Hall）與平行偶極線（Parallel Dipole Line, PDL）霍爾量測架構，系統可高精度萃取多項關鍵電性與光生載子參數，包括：

載子遷移率（μ）
載子濃度（n / p 型）
載子類型辨識
光生載子動態行為
電阻率與導電度分佈
霍爾係數及磁傳輸特性

PDL 系統適用於研究實驗室與半導體製造環境，具備對低遷移率材料與寬能隙半導體的高敏感度量測能力。系統支援多樣化照光條件，可進行光生效應相關研究，同時提供跨材料、跨樣品類型皆具高穩定性與重複性的量測效能。
此新一代霍爾量測平台具備現代半導體研發所需的高準確度、可靠性與多功能性，廣泛應用於功率電子、光電元件、2D 材料以及各類新興化合物半導體技術的開發與驗證。

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