奈米壓痕及刮痕測量儀-UNHT3
產品分類:半導體封裝與組裝設備
廠商名稱:台灣安東帕有限公司
攤位號碼:N408
產品特色
MSC系列為半導體微觀力學測試提供了極高的載荷解析度與環境穩定性,是量化評估封裝結構機械強度不可或缺的工具。隨著重佈線層 (RDL) 與矽穿孔 (TSV) 結構的不斷微縮,材料表面的硬度、彈性模數及界面附著力直接決定了晶片的長期可靠性。UNHT3搭載獨家的「頂面參考技術」(TSR),透過硬體設計即時抵消測量過程中的熱漂移,讓樣品在安裝後無需經過冗長的熱平衡等待即可開始精準測試。結合自動化全景成像系統,研發人員能直觀地定量評估塗層或金屬線路在受力下的失效臨界點。這種兼具高通量與高穩定性的測量平台,為開發耐受熱應力與機械衝擊的先進封裝架構提供了科學化的量化標準與失效分析依據。
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